扫描透射电子显微镜(STEM)与电子能量损失谱(EELS)结合使用是一种强大的工具,可以解析到原子尺度[1]。由于EELS信号具有高动态范围,难以在一次采集中记录整个感兴趣的能量损失范围。为此可以采用DualEELS技术[2,3]:在每个像素处,依次记录低损失(LL)区域和高损失(HL)区域,LL区域采用短积分时间,HL区域采用长积分时间。一种有效的方法是设置LL和HL的光谱能量范围使其重叠,从而将它们拼接成单一光谱[4]。
这些技术之前已被用于研究钢基体中的(Ti,V,Nb)CN沉淀物及其岩盐结构,表明可以详细分析单个沉淀物[5], [6], [7]。本文旨在开发更高效的方法来映射大量此类沉淀物,以获取其厚度、体积、数密度、体积分数、尺寸分布以及合金元素的比例等信息。当然,还有其他方法可用于金属合金(包括钢材)中沉淀物的成像与分析,例如TEM或STEM[8], [9], [10], [11], [12]、EFTEM(能量过滤TEM)[13,14]、EDX(能量色散X射线)成像以及原子探针断层扫描(APT)[15]。此外,TEM结合EELS(和EDX)技术还可用于沉淀物形状的3D重建[16,17]。然而,直接成像存在图像解释的困难——当两者同时存在时,难以区分小沉淀物和位错。EFTEM对低元素浓度不够敏感,因此仅适用于较大的沉淀物(可能大于5nm)。EDX在某些现代STEM仪器中即使采用多探测器配置,也无法在合理的空间分辨率下快速映射大样本区域。断层扫描技术在处理少量沉淀物的细节方面表现较好,但在处理大量沉淀物时效果不佳。倾斜断层扫描需要体积非常小的样品以保持整个倾斜过程中的厚度在可接受范围内[17],或者需要将较大沉淀物提取到支撑物上进行观察[16]。APT则需要体积较小的样品以便进行场蒸发[15]。
使用光谱的LL和HL区域数据来进行映射时,所需的采集时间较长,这限制了可映射的区域范围。然而,通过对数据的分析,可以获得沉淀物的成分及其在HL和LL区域的截面信息。因此,即使仅基于有限的HL/LL DualEELS数据,也应能够量化更大的区域。
关于钢中Ti-V-Nb碳化物LL区域沉淀物的主要信息来源是以下金属边缘:Ti(M2,3 )、V(M2,3 )和Nb(N2,3 )。它们的阈值比基体元素Mn(M2,3 )和Fe(M2,3 )低几电子伏特。因此,在覆盖沉淀物边缘但停止于基体边缘的窗口内映射信号,应该可以得到沉淀物的分布图。然而,多次散射、残余衍射对比度以及基体厚度的变化会掩盖沉淀物信号。如果对数据进行反卷积处理,并通过I0 (零损失峰ZLP的强度)去除衍射对比度,以及(t/λ )去除厚度变化,就可以获得清晰的沉淀物分布图。其中t 表示基体厚度,λ 表示非弹性平均自由路径。这一过程可以在数据采集过程中或采集后立即在显微镜上进行,是寻找研究区域的有效方法。
不幸的是,由于缺乏简单的背景减除方法,且不同能级之间以及等离子体之间的相互作用会导致特征强度和能量的变化,因此难以量化LL区域的光谱。这是由于系统的介电函数形式所致[ε ( ω ) ,该系统包含自由电子和束缚电子。介电函数是各种原子电子态线性组合的形式[例如Fox [18]]。然而,EELS光谱的形状受Im (-1/ε (ω)) [19]的影响,导致原子态的贡献相互耦合。因此,在电子结构计算中,结合能较低的原子态常被称为半核态(例如Engel [20]),下文也采用这一术语。
对于钢基体中的沉淀物,即使使用幂律背景拟合来量化HL区域的边缘也会变得复杂。基体元素的半核态产生的扩展能量损失精细结构(EXELFS)会严重干扰某些边缘前的背景[7]。表面氧化产生的O K边缘也会造成问题。在分析前减去基体的贡献有一定帮助,但并不完美。
另一种方法是避免背景减除。现有的二元标准样品的实验截面数据包含背景信息[6]。基体贡献的形状可以直接从SI数据中获取。这些成分可用于HL区域的多元线性最小二乘(MLLS)拟合以量化沉淀物[7]。在本研究中,该方法稍作修改:不仅从SI数据中获取基体形状,还获取沉淀物的光谱形状。前者可以使用Gatan软件提供的Hartree-Slater(HS)截面[22]转换为伪实验截面? ;后者可以通过将形状缩放到HL区域实验二元截面的线性组合来转换为实验截面。这样得到的截面在整个能量范围内都有效,可用于MLLS拟合。通过在HL区域和LL区域分别进行拟合,可以比较两者的量化结果,证明两者之间的一致性非常好,为快速、大范围映射钢中的沉淀物提供了途径。