利用可见近红外光谱(VNIR-HSI)结合扫描电子显微镜(SEM)和同步辐射傅里叶变换红外光谱(SR-FTIR)的空间异质性分析,对小麦籽粒中的脱氧雪腐镰刀菌烯醇进行无损检测
《Food Control》:Nondestructive Detection of Deoxynivalenol in Wheat Kernels using VNIR-HSI Supported by Spatial Heterogeneity Analysis with SEM and SR-FTIR
编辑推荐:
小麦赤霉病毒素检测中融合近红外高光谱成像(VNIR-HSI)、扫描电镜(SEM)和同步辐射傅里叶变换红外光谱(SR-FTIR)技术,实现非破坏性空间异质性分析及毒素定量预测。DWT+SVM模型分类准确率达97.21%,SG+GA-RF模型回归性能优异(R2=0.9347,RPD=4.0249)。
卢瑶|张荣耀|卢英哲|李雪峰|侯炳乾|宋占华|杨青璐|严寅发
山东农业大学机械电子工程学院,泰安,271018,中国
摘要:
镰刀菌穗枯病(FHB)及其主要霉菌毒素脱氧雪腐镰刀菌烯醇(DON)对小麦产量和食品安全构成严重威胁。本研究结合了可见近红外高光谱成像(VNIR-HSI)、扫描电子显微镜(SEM)和同步辐射傅里叶变换红外(SR-FTIR)微光谱技术,以研究受污染小麦籽粒中的空间异质性,并实现非破坏性检测DON。具体而言,SR-FTIR与SEM结合使用揭示了小麦籽粒的微观表型特征和养分分布;VNIR-HSI用于提取DON的光谱特征并进行定量检测。通过测量DON水平和光谱特征,开发了简化的分类和回归模型:DWT+SVM(A_C = 97.21%,A_P = 94.44%)用于FHB分级;SG+GA-RF(R_P^2 = 0.9347,RMSE_P = 1.8460,RPD = 4.0249)用于DON毒素回归。这为阐明单个小麦籽粒中的异质性模式和量化DON水平提供了新的见解。
引言
小麦是全球种植最广泛的作物之一。由Fusarium graminearum引起的镰刀菌穗枯病(FHB)对小麦质量与产量构成严重威胁(Bentley等人,2022年)。其次级代谢产物脱氧雪腐镰刀菌烯醇(DON),也称为呕吐毒素,具有相当的毒性(Ji等人,2024年)。该毒素可导致恶心、头晕、腹泻等症状,在严重情况下还会引发神经系统疾病,影响人类和动物健康(Zhu等人,2025年)。为降低食品链中DON污染的风险,相关法规规定小麦食品中DON的最大允许限量为1000 ppb(GB2761-2017),家禽饲料中为5000 ppb(GB13078.3-2007)。现有的化学检测方法(如高效液相色谱法(HPLC)、气相色谱法(GC)和免疫色谱法(ICA)存在诸多局限性,包括操作复杂、设备成本高以及可能损坏样品等问题,无法满足大规模、非破坏性筛查的需求(Su等人,2021年;Hall等人,2022年)。因此,开发非破坏性检测小麦中DON含量的方法对食品安全和降低成本至关重要。
研究人员正在探索利用RGB图像检测作物病害的各种方法。Gu等人(2020年)使用随机森林(RF)算法对小麦的FHB程度进行分类,准确率达到94.3%。然而,RGB图像处理仅能检测可见霉菌,无法揭示内部生化信息,因此无法有效识别无明显毒性症状的籽粒。近红外光谱技术虽能检测DON毒素,但只能提供多个籽粒的平均光谱谱图,难以识别高度污染的籽粒或确定毒素的空间分布。
新兴的高光谱成像(HSI)技术结合了成像和光谱分析,能够同时获取光谱和空间数据,实现非破坏性的像素级光谱数据采集。研究表明小麦籽粒反射率与DON浓度之间存在强相关性(Jin等人,2014年)。这使得对小麦中DON污染的快速定性和定量分析成为可能(Liu等人,2020年)。Femenias等人(2022年)利用近红外高光谱成像(HSI-NIR)与偏最小二乘回归(PLSR)结合,准确检测受镰刀菌损害的小麦籽粒并预测DON浓度,表现出优异性能(R^2 = 0.88,RMSE_P = 6.65 mg/kg,RPD = 3.21)。Vicens-Sans等人(2024年)使用近红外HSI对DON含量进行分类,准确率为0.71。Whetton等人(2018年)利用偏最小二乘回归(PLSR)高精度预测FHB(R^2 = 0.82)。Femenias等人(2020年)基于NIR光谱范围开发了DON预测模型,交叉验证的RMSE值为405 μg/kg,独立验证的RMSE值为1174 μg/kg。Zhang等人(2020年)利用VNIR(400-1000 nm)范围的高光谱数据和随机森林算法将受损小麦籽粒分为三类,准确率达到96.44%。Dhakal等人(2023年)将Mask R-CNN结果与分类方法结合,将高光谱数据与DON含量关联起来,R^2值为0.75。HSI已被广泛证明是检测农产品中真菌感染和霉菌毒素污染的有效技术。本研究利用VNIR范围的高光谱数据对DON污染进行了定性和定量分析,通过优化遗传算法-随机森林(GA-RF)模型实现了准确稳定的DON量化。该混合算法结合了遗传特征选择和参数优化,有效解决了高维度、特征冗余和光谱相关性等问题。优化后的GA-RF模型提升了回归性能,证明了其作为快速、非破坏性DON预测方法的有效性,为小麦食品安全监测和质量评估提供了宝贵价值。
HSI主要用于捕捉小麦籽粒的宏观特征,包括外部形态和整体光谱响应。同时,扫描电子显微镜(SEM)和基于同步辐射的傅里叶变换红外(SR-FTIR)微成像等辅助技术用于研究小麦籽粒的微观结构和内部营养成分。研究人员将这些技术整合用于种子质量检测。例如,Lu等人(2024年)利用SEM在微观层面准确捕捉了Aspergillus flavus感染下玉米籽粒组织(胚和胚乳)中的菌丝、分生孢子和柱头等结构的变化,描述了养分损失情况。Abdoli等人(2024年)使用SEM研究了卵壳角质层,发现CAAP-J处理对其结构影响极小。Ne?i?等人(2020年)利用同步辐射(SR)FTIR光谱与主成分分析(PCA)结合,分析了HeLa细胞的生化变化,突显了基于SR的技术在提供高分辨率生化信息方面的有效性。Lu等人(2022年)利用SR-FTIR微光谱和二维相关光谱(2D-COS)阐明了镰刀菌感染下玉米籽粒中养分损失和AFB1微量变化的动态过程。基于这些进展,本研究创新性地结合了SEM和SR-FTIR技术,从微观层面阐明了FHB影响下小麦籽粒光谱变化的内在机制。这种综合方法弥合了宏观高光谱分析与微观表征之间的差距,提供了对FHB引起的结构和生化变化的更全面理解。
因此,本研究的目标是:(1)对DON毒素水平进行统计分析,并研究不同污染程度下小麦籽粒的光谱响应;(2)利用SEM和SR-FTIR微光谱技术揭示受污染籽粒的微观结构损伤和养分异质性;(3)开发基于DON含量的分类模型;(4)建立预测单个小麦籽粒中DON含量的回归模型。
样本制备
本研究共收集了408颗成熟的小麦籽粒作为目标样本,其中48颗籽粒被随机选为独立验证集。所有实验材料均属于在中国广泛种植的Shannong 28小麦品种。这些小麦在江苏省农业科学院的试验田种植,播种时间为2023年10月中旬,次年6月完全成熟后收获。实验过程遵循统一的农艺管理措施。
DON毒素的统计分析及Box-Cox正态性转换
DON毒素是Fusarium graminearum感染生长中的小麦植物时产生的次级代谢产物。本研究对小麦样品中的DON含量进行了统计分析。如图1(a)所示,大多数籽粒的DON含量处于低毒性范围,但也有部分籽粒的毒素含量极高,这为模型的泛化能力提供了数据支持。然而,DON含量的分布过于分散,难以符合理想的正态分布模型。
结论
本研究全面分析了真菌次级代谢产物DON污染对田间接种小麦籽粒的宏观和微观影响,结合了VNIR高光谱成像、SEM和SR-FTIR技术。结果表明,VNIR高光谱成像有效捕捉了不同污染程度下的光谱变化,相应的吸收曲线提供了关键信息。SEM观察揭示了光谱变化的原因。
作者贡献声明
张荣耀:撰写初稿、正式分析、数据管理、概念构建。卢英哲:撰写初稿、项目管理、概念构建。卢瑶:撰写初稿、软件开发、项目管理、概念构建。宋占华:方法论设计、数据管理。杨青璐:撰写初稿、方法论设计、正式分析、数据管理。李雪峰:方法论设计、数据管理。侯炳乾:正式分析、数据管理。严寅发:审稿
未引用参考文献
Agelet和Hurburgh,2010;Lu等人,2022;Yu,2004。
利益冲突声明
作者声明不存在可能影响本研究公正性的利益冲突。
致谢
本研究得到了中国博士后科学基金会(编号2025M772987)的支持。我们衷心感谢Kong Lingrang教授在研究方法上的宝贵指导。同时感谢国家小麦育种重点实验室提供SEM设备的支持,特别感谢上海同步辐射设施(SSRF)BL01B光束线的Xiaojie Zhou在SR-FTIR数据收集过程中的协助。