用于后矢状入路下萎缩性硬脑膜缺损的双层嵌套-叠加硬脑膜重建技术

《Neurosurgical Review》：Two-layer inlay–onlay dural reconstruction technique for atrophic dura mater defects in the retrosigmoid approach

硬脑膜萎缩变薄经枕下入路手术时，传统单层修补存在机械强度不足问题。本研究采用G-Patch内层支撑联合Bloodstop止血层及外层G-Patch覆盖的双层修补技术，对19例无法直接缝合的病例进行前瞻性观察，术后无脑脊液漏、感染及再手术发生，证实该技术安全有效。

　　

摘要

在经乙状窦后入路手术中遇到的萎缩性和变薄的硬脑膜（DM）是一个公认的技术难题，因为它难以实现完全封闭的硬脑膜缝合。当直接缝合不可行时，脑脊液（CSF）泄漏及相关伤口并发症的风险会增加。在这种情况下，传统的硬脑膜修复方法（包括自体移植、密封剂以及单层嵌入或覆盖技术）可能提供的机械稳定性有限，对脑脊液压力的抵抗力也不足，尤其是在硬脑膜脆弱且萎缩的情况下。这些局限性凸显了在特定临床情况下需要采用能够同时增强内部支撑和外部密封的重建策略。本研究旨在描述并评估使用生物材料G-Patch和Bloodstop进行双层嵌入-覆盖硬脑膜重建方法的临床可行性和安全性，以修复经乙状窦后入路手术中的硬脑膜缺损。2023年1月至2025年11月期间，共有262名患者在乌兹别克斯坦塔什干市的共和国专门科学和实践神经外科医疗中心接受了经乙状窦后入路的后颅窝手术。其中19名患者（7.3%）在术中被发现硬脑膜有明显的、无法缝合的萎缩，这阻碍了完全的初次缝合。这19名患者构成了研究组。重建策略包括在硬脑膜缺损边缘下方放置一个内部的G-Patch移植物，并用几针4-0号Prolene缝线固定。随后应用一层Bloodstop止血材料，再放置一个外部的G-Patch移植物，使其有足够的重叠以加强修复效果。术后评估的重点是伤口愈合情况、局部伤口状况以及是否发生脑脊液泄漏或伤口相关并发症。只有在必要时，才通过放射学检查来识别重建失败或与脑脊液相关的并发症的间接迹象。所有19名患者的硬脑膜重建都取得了稳定效果。术后期间，没有出现脑脊液泄漏、假性脑膜膨出或伤口相关感染并发症的情况。没有任何患者因硬脑膜修复需要再次手术。所有患者的术后恢复过程均无并发症，随访期间也没有出现任何表明重建失败或重建材料移位的临床迹象。所提出的双层嵌入-覆盖硬脑膜重建方法对于经乙状窦后入路手术中遇到的无法缝合的萎缩性硬脑膜病例来说，似乎是一个可行且安全的重建选择。该技术通过结合嵌入支撑和覆盖层提供了机械加固，并在本研究系列中显示出良好的短期临床结果。鉴于这项经验的初步性质和样本量有限，目前尚无法得出该方法优于其他硬脑膜修复技术的明确结论。然而，在精心选择的临床情况下，这种方法可能成为现有硬脑膜重建策略的一个有用的补充。