光电探测器是一种将光信号转换为电信号的光电器件,在现代技术中有着广泛的应用,如光通信[1,2]、光成像[3,4]和生物医学诊断[5]。传统光电探测器存在诸多局限性,包括制造工艺复杂、工作温度极低、成本高昂、检测波长狭窄以及机械刚性差[6],[7],[8],[9],这些因素严重限制了其在光电领域的应用。二维(2D)材料(如石墨烯[10]、黑磷[11]、过渡金属硫属化合物[MoS2, WS2, WSe2等][12]以及拓扑绝缘体[Bi2Te3和Bi2Se3[13])因其高电子迁移率[14,15]、合适的带隙[16,17]和良好的机械强度[8]而被广泛研究用于光电探测器。然而,石墨烯的零带隙导致暗电流过大,限制了其在高灵敏度光电探测中的实用性[18];黑磷虽然具有高载流子迁移率且带隙可调,但环境稳定性较差[19];过渡金属硫属化合物由于载流子有效质量大而迁移率较低[20];而拓扑绝缘体如Bi2Te3和Bi2Se3虽然载流子迁移率优异,但其金属表面态会导致持续导电性,从而严重影响光电探测器的开关性能[21,22]。相比之下,新兴的Bi2O2Se(BOS)纳米片具有0.8电子伏的适中带隙[23]、优异的空气稳定性[24]以及在2K温度下28900 cm2V?1s?1的优异电子迁移率[25],在高性能光电探测器方面展现出巨大潜力。
除了需要新材料外,实现低功耗或零功耗也是针对特定应用场景(如神经形态计算和人工视觉[26,27])设计新型光电探测器的重要目标。为实现自供电,许多研究依赖于p-n结或肖特基结,通过内置电场分离光生电子-空穴对[28],[29],[30],[31]。然而,p-n结的制备通常涉及复杂的化学掺杂或材料转移工艺,显著增加了制造难度[32]。相比之下,金属-半导体肖特基二极管的相对简单性使其在高性能光电应用中受到广泛关注[33,34]。自供电检测的关键在于构建非对称肖特基接触,这种非对称结构突破了传统对称器件几何形态的局限,通过引入有意的空间非均匀性来调控半导体通道内的静电场。当具有不同功函数的金属与半导体表面接触时,费米能级的对齐会导致两端产生不同程度的能带弯曲,从而在整个活性区域产生连续的电势差[35,36]。另一种方法是通过不同的接触面积实现几何非对称性,从而产生位置依赖的电流密度和串联电阻,有效模拟外部施加电压的效果[37],[38],[39]。这两种方法均为自供电器件提供了简单有效的实现途径。
除了自供电功能外,宽光谱检测需求也是一个重大挑战,因为单一材料由于其固定的带隙结构只能在特定或狭窄的光谱范围内进行检测。胶体量子点(QDs)能够精确且简单地调控其带隙[40],[41],[42],并通过表面化学修饰调节其电学和光学性质[43]。其中,铅硫属化合物量子点(如PbS和PbSe)被广泛集成到基于二维材料的光电探测器中[44]。这是由于量子限制效应,通过简单改变量子点尺寸,可以精确调节其带隙,覆盖可见光到红外光谱范围[43,45]。随着量子点尺寸减小至激子玻尔半径,离散能级变得更加明显,从而可控地拓宽带隙。这种尺寸依赖的带隙可调性遵循可预测的理论关系,无需改变化学成分即可确定光谱响应特性,简化了材料合成和器件优化流程[45]。例如,PbSe-QDs被用于提升MoS2的红外性能,在2.55微米波长红外光照射下,其响应度(R)达到137.6 A/W,探测率(D*)达到7.7 × 1010 Jones,并将其灵敏度扩展至中红外区域(3微米[46]。因此,将PbS-QDs旋涂到BOS纳米片上是一种简单有效的方法,可增强其光谱响应范围。
因此,在本研究中,我们基于纯度高的BOS纳米片制备了一种自供电光电探测器。采用Pd/BOS/Pd结构和非对称接触面积,利用BOS的固有半导体特性实现自供电操作。不含PbS-QDs的BOS光电探测器在光照下表现出整流行为,但在近红外光谱区域的响应急剧下降。相比之下,加入PbS-QDs的器件由于PbS与BOS之间的I型界面促进了电子从PbS向BOS的注入[47],从而实现了超灵敏的宽带响应。此外,量子点还通过可调带隙扩展了红外区域的探测性能。重要的是,非对称Pd接触产生的内置电场不仅维持了自供电操作,还加速了从PbS-QDs注入的光生电子的分离,而量子点引起的界面能带弯曲进一步增强了内置电势。因此,这种混合光电探测器具有更快的光响应速度、更宽的光谱检测范围(450纳米至1050纳米)、更高的响应度(241.38 A/W)、更高的探测率(2.23 × 1012Jones)和外部量子效率(66681%),尤其是在450纳米光照下。此外,这种混合光电探测器还保持了自供电能力,光电流显著增强了近三个数量级。这种低成本、制备简单且具备自供电能力的非对称电极BOS光电探测器,成为下一代视觉智能应用(如人工视网膜和神经形态计算中的光学突触)的理想候选者。