钇铝石榴石Y3Al5O12(YAG)是最重要的光学晶体材料之一,广泛用于制造激光介质和闪烁体[[1], [2], [3]]。用于此类应用的材料必须具备优异的机械、热学和光学性能。然而,与其他通过高温熔体采用各种技术生长的氧化物晶体类似,单晶YAG不可避免地含有各种固有缺陷和杂质点缺陷[[3], [4], [5], [6], [7]]。这些点缺陷可能会对YAG在许多实际应用中的功能特性产生负面影响[3,[7], [8], [9], [10], [11], [12]]。
大量文献致力于研究改变YAG晶体光学和闪烁特性的晶格缺陷。许多报告描述了与原材料[1,3,7,9,10,[13], [14], [15], [16], [17], [18], [19], [20]]以及坩埚、加热和绝缘材料(W、Mo、C)[4,10,[19], [20], [21], [22], [23], [24], [25], [26]]中的杂质相关的杂质中心。此外,还进行了关于YAG固有缺陷的实验和理论研究,这些缺陷包括三种类型的阳离子空位和一种类型的阴离子空位——八面体和四面体铝空位(VAl)、钇空位(VY)、氧空位(VO),以及反位(反结构)缺陷,即Y占据Al位点(YAl)或反之(AlY)。这些基本缺陷可以形成复杂的簇[3,7,9,10,[12], [13], [14], [15], [16], [17], [18], [19], [20], [21], [22], [23], [24], [25], [26], [27], [28], [29], [30], [31], [32], [33], [34], [35], [36], [37], [38], [39]]。
已经确定了某些缺陷类型与光学吸收特征带之间的关联,特别是与Fe、Mn、Cr、Ti、V和C杂质[3,9,10,13,14,16,17,19,20,[40], [41], [42]];F和F+中心[3,7,9,10,13,18,24,[31], [32], [33], [34]];F+–YAl复合体[3,7,10,20,33,37];以及O?和O?–YAl中心[13,[40], [41], [42], [43], [44]]相关的特征带。然而,关于YAG晶体中大多数观察到的光学吸收带的具体缺陷类型,目前文献中尚未达成共识。
YAG晶体通常采用Czochralski法、垂直Bridgman法、水平定向结晶(HDC)法、Kyropoulos法、温度梯度技术(TGT法)、边缘定义薄膜生长(EFG法)等方法从熔体中生长[[1], [2], [3], [4], [5],10,20,23]。所得晶体的光学性质很大程度上取决于生长技术和所用条件。决定不同方法生长出的YAG晶体光谱特性的关键因素是生长气氛的组成,该组成可能包含氧化性和还原性成分。许多研究探讨了生长气氛对YAG性质的影响[4,10,14,20,23,24,28,32,[45], [46], [47]]。在[20,46,47]的研究中,考虑了含有CO的气氛中的化学反应及其对原材料、熔体和晶体组成的影响。我们之前的工作[[48], [49], [50], [51], [52]]已经讨论了在含有CO和H2的气氛中通过HDC法生长的活性YAG晶体的光学特性的具体特征。然而,关于特定组成的生长气氛与YAG熔体之间的直接相互作用,以及这些过程对YAG晶体化学计量偏差和缺陷形成的影响,目前还缺乏详细研究。
本研究的目的是探讨在含有还原成分(CO和H2)的气氛中通过HDC法生长的YAG晶体中光学吸收中心的形成机制和性质。使用还原性气氛可以避免钼坩埚的氧化,显著延长加热器和隔热屏的使用寿命。我们的团队已成功应用这项技术生长出大型白蓝宝石晶体[53,54]、Ti:蓝宝石激光晶体[55]、镁铝尖晶石[56,57]以及基于YAG的闪烁体和激光晶体[[48], [49], [50], [51], [52], [58]]。然而,使用这种介质引入了一些特定挑战,需要解决这些问题以进一步发展技术。了解主要决定YAG操作特性的缺陷的性质以及工艺气氛组成对其形成的影响,对于提高晶体质量至关重要。
在这项工作中,我们使用了实验数据和在含有CO和H2的气氛中YAG的蒸气相组成的计算结果[53,54],来评估在这些特定条件下生长和退火后的晶体的化学计量偏差程度。