将维度降低到一维(1D)纳米线(NWs)是一种有效的方法,可以减轻由于量子限制效应而在体材料中固有的电子和空穴有效质量的不对称性[1]。此外,1D通道天然兼容新兴的全环绕栅极(GAA)场效应晶体管(FET)架构,这是实现亚3纳米技术节点摩尔定律的下一代解决方案[2]。与2D和3D通道相比,1D通道具有更高的载流子迁移率和平均自由路径,同时减少了背散射,从而实现了接近弹道传输和性能的提升[3]。此外,随着直径的减小,自然长度尺度缩短增强了栅极控制[1,4]。理论上,先前的研究预测GAA NWFET在亚5纳米尺度下适用于高性能(HP)应用[1,[4], [5], [6], [7], [8], [9]]。然而,关于低功耗(LP)应用的报道有限,主要是由于这些NW通道的带隙较窄。
氮化镓(GaN)是一种III-V族半导体,由于其宽带隙、高电子迁移率、热稳定性、高击穿电压以及适用于高频操作等优点,成为硅之外的有前途的通道材料[[10], [11], [12]]。除了晶体管应用外,GaN纳米线还被应用于多种领域,如肖特基二极管[13]、场发射器件[14]、光电传感器[15]、锂离子存储[17]和水分解的光阳极[18]。1D GaN NWs通过自上而下和自下而上的方法制备[19],据报道,薄NWs的直径范围为5至35纳米,优先沿着纤锌矿GaN的c轴方向生长[[20], [21], [22], [23], [24]]。关于GaN NWFET的研究主要集中在n型性能上,因为GaN具有已知的高电子迁移率。实验上,已经制备了直径在45至120纳米之间、通道长度在数百纳米量级的n型GAA GaN NWFET,显示出在低电压/低功耗应用中的潜力[[25], [26], [27]]。理论上,使用半经验传输方法对直径为1.6~2.8纳米、栅极长度为3~7纳米的n型GAA GaN NWFET进行了模拟[[28], [29], [30]]。其中,一个截面为三角形的器件表现出优异的性能,包括62 mV/dec的亚阈值摆幅、2?×?106 μA/μm2的驱动电流和2.6?×?10-32 Js的能量延迟,与模拟的Si NWFET相比[28]。因此,有两个有趣的问题出现了:使用从头算传输方法评估时,超大规模的GAA GaN超薄NWFET的性能如何?是否可以在GAA GaN NWFET中实现对称的n型和p型性能?
在这项工作中,我们制备了栅极长度为3纳米、直径为1.32纳米的GaN纳米线GAA FET,并使用从头算量子传输计算模拟了n型和p型器件的性能。采用了两种优化策略——掺杂浓度和重叠长度——来提高器件性能。优化后的n型和p型GAA GaN NWFET不仅达到了国际器件与系统路线图(IRDS)的HP和LP目标[2],而且超越了这些目标。重要的是,无论是LP还是HP应用,都实现了对称性能,显著优于之前报道的GAA FET,特别是在LP场景下[1,[4], [5], [6], [7], [8], [9]]。