α粒子光谱学是测量α发射源的关键方法,应用于安全、废物管理和核物理领域(Aggarwal, 2016; Wu et al., 2022; Horansky et al., 2008; Zhou et al., 2021)。传统上,这些测量依赖于昂贵的半导体探测器以及需要专门设备和设施的复杂系统(Croce et al., 2012)。近年来,如网络摄像头这样的低成本CMOS相机已成为检测带电粒子和高能光子的实用工具。它们的广泛可用性、小巧的体积和低功耗使其成为开发轻便便携式光谱系统的理想选择(Hachaj and Piekarczyk, 2023; Lin et al., 2024; Ratti et al., 2021)。然而,使用网络摄像头传感器时面临的一个主要挑战是准确区分α粒子信号与其他辐射(见图1)。
为了解决这个问题,研究人员开始应用机器学习和计算机视觉技术来分析CMOS图像中的亮像素簇。卷积神经网络(CNN)在诸如DECO等项目中取得了成功,该项目使用智能手机摄像头来检测宇宙射线事件(Winter et al., 2018)。大多数现有方法在分析前需要大量的预处理步骤,如噪声过滤、阈值处理或背景减除(Estrade et al., 2019; Perlin et al., 2022)。
本研究探讨了直接将YOLO目标检测算法应用于原始CMOS图像的方法,未进行任何过滤或去噪预处理,除了将图像简单划分为四个象限以提高检测精度(Ultralytics, 2025)。消除复杂的预处理步骤(如过滤或阈值处理)有助于避免错误,并展示了YOLO有效分析噪声实验数据的能力。我们的方法提高了使用网络摄像头进行α粒子检测的效率。α光谱学中的另一个关键问题是“堆积”现象,即时间或空间上接近的粒子产生的重叠信号会扭曲能量测量结果。最近的研究表明,机器学习技术可以检测并纠正这些“堆积”事件(Molnar et al., 2023)。在这方面,YOLO在识别和纠正来自镭-226源的α粒子图像中的堆积现象方面表现出了强大的能力。
以往的研究通常主要关注粒子计数,而没有深入研究诸如“能量分辨率”、“检测效率”和“灵敏度”等关键参数(Zhang et al., 2024; Frutos-Puerto et al., 2021)。据我们所知,这是首次将基于YOLO的目标检测与CMOS成像相结合进行定量α粒子光谱学的研究,其中光谱信息是通过蒙特卡洛模拟重建和验证的,而不仅仅是像以往基于YOLO的方法那样进行轨迹计数。通过提取与光点“大小”和“亮度”相关的特征,我们能够直接从图像数据中重建光谱信息。此外,通过将我们的实验结果与使用基于蒙特卡洛的AASI软件模拟的光谱进行比较(Siiskonen and P?ll?nen, 2005),我们建立了一个用于定量验证和“能量校准”的稳健框架。
与传统基于预处理的方法相比,我们的方法具有更高的准确性,并能够在实际条件下实现实用的光谱学分析。这种方法的有希望的性能为开发适用于环境监测、核安全和放射性材料监测的自动化光谱系统奠定了坚实的基础。