GaN数字集成电路可在高达800°C的温度下正常工作

《IEEE Transactions on Electron Devices》:GaN Digital IC Operating Up to 800 °C Temperature

【字体: 时间:2026年02月28日 来源:IEEE Transactions on Electron Devices 3.2

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  基于氮化镓(GaN)技术,研究团队实现了工作温度高达800℃的NOT门电路和600℃下11级环形振荡器(RO)。每个NOT门包含输入电阻晶体管逻辑(RTL)和输出电平移位两个阶段。在5V栅源电压和10V漏源电压下,阈值电压随温度升高从-2V(25℃)增至-3V(800℃),导通电流密度从392 mA/mm(25℃)降至70 mA/mm(800℃)。实验表明GaN在高温电子器件中优于硅 carbide(SiC),但RO的性能受限于中间金属介质的击穿,可通过优化介质厚度或质量改善。

  

摘要:

本文利用氮化镓(GaN)技术报道了一种NOT门,其工作温度可达到800°C;同时还介绍了一种11级环形振荡器(RO),其在氮气环境中的工作温度可达到600°C。每个NOT门包含两个阶段:一个输入电阻-晶体管逻辑阶段和一个输出电平转换阶段。这些晶体管在25°C时的阈值电压约为-2 V,在800°C时的阈值电压约为-3 V。在栅源电压为5 V、漏源电压为10 V的条件下,导通状态下的电流密度从25°C时的392 mA/mm降低到了800°C时的70 mA/mm。采用相同的环形振荡器电路拓扑结构,GaN技术相较于碳化硅(SiC)技术表现出更好的性能。目前,环形振荡器的性能和工作温度受到金属间电介质击穿的限制,这一问题可以通过使用更厚或质量更好的电介质来缓解。

引言

由于氮化镓(GaN)和碳化硅(SiC)等宽带隙半导体的本征载流子密度远低于硅(Si)[1],因此它们非常适合用于高温电子应用,例如太空探索(温度可达数千摄氏度)[2]以及汽车排气和燃烧系统(温度可达数百摄氏度)[3]。

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