具有内部金属结构的3D NAND一级封装内部热流路径的建模与优化
《IEEE Transactions on Electron Devices》:Modeling and Improvement of Heat-Flow Paths Inside 3D-nand First-Level Packages With Internal Metal Structures
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时间:2026年03月05日
来源:IEEE Transactions on Electron Devices 3.2
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NAND闪存SSD因高速接口和紧凑封装面临热管理挑战,本研究构建三级封装热模型,通过实验与FEM仿真验证,揭示热流路径以环氧树脂和PCB焊点为瓶颈,提出四种嵌入式金属设计,使热点温度从80°C降至70°C,效率提升12.5%。
摘要:
随着接口速度的提高和外形尺寸的缩小,NAND闪存固态硬盘(SSD)的性能已接近其热极限。本研究建立了一个精确的散热模型,该模型结合了实验数据、有限元方法(FEM)仿真以及简化的网络模型,用于指导一级封装(FLP)的设计。研究人员构建了一个商用NAND模块的详细三维模型,并通过光纤热传感器和红外(IR)成像技术对实际封装进行了验证,结果发现该模块的饱和温度约为80℃。经过校准的模型揭示了两种主要的热流路径:一是热量通过环氧树脂封装材料(EMC)向上散发;二是热量通过焊点向下传递至印刷电路板(PCB)。其中,EMC和PCB被认为是散热的主要瓶颈。为了解决这些散热问题,研究人员提出了四种不同的金属嵌入设计方案。与80℃的基准温度相比,采用不同金属结构后,热点温度分别降低了77.0℃、75.4℃、75.7℃和70.0℃,实现了高达12.5%的散热效果。实验结果表明,热垫主要改善了模块顶部的散热效果,而散热器则实现了上下方向的均匀热分布,从而提升了整体的散热性能。
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