二次离子质谱法在26Al–26Mg测年中的有效离子产额及基质效应

《RAPID COMMUNICATIONS IN MASS SPECTROMETRY》：Ion Useful Yields and Matrix Effects in 26Al–26Mg Dating by Secondary Ion Mass Spectrometry

二次离子质谱法（SIMS）系统评估了16O?和16O2?离子束在26Al-26Mg定年中的应用差异，发现16O2?束通常提供更高有用产率，但不同矿物中RSF和IMF变化显著，需综合考虑基体效应优化分析条件。

摘要

研究背景

二次离子质谱（SIMS）已被广泛用于测定太阳系早期固体的²⁶Al–²⁶Mg年龄。在这些分析中，使用了¹⁶O^?和¹⁶O₂^?两种初级离子束，但初级离子束种类对二次离子产率以及基质效应的影响尚未得到系统评估。更好地理解这些效应对于提高²⁶Al–²⁶Mg测年的准确性和精度至关重要。

方法

对于用于²⁶Al–²⁶Mg测年的标准材料，我们使用SIMS测定了在¹⁶O^?和¹⁶O₂^?初级离子束条件下，²⁷Al/²⁴Mg的溅射速率、产率以及对相对灵敏度因子（RSFs）的影响，以及镁同位素的仪器质量分馏（IMFs）。溅射速率是通过光栅化离子束来测定的，而其他参数则是在实际进行²⁶Al–²⁶Mg测年时获得的分析条件下得到的。

结果

总体而言，¹⁶O₂^?初级离子束条件下的产率高于¹⁶O^?条件，但在低离子电流条件下分析的斜长石和钙铁榴石除外。相同矿物种类但成分不同的样品之间，RSFs的变化在¹⁶O^?和¹⁶O₂^?条件下的差异较大或较小，这取决于具体的矿物种类；而IMFs的变化在¹⁶O₂^?条件下的变化略大于¹⁶O^?条件下的变化。

结论

我们的研究结果强调了在优化基于SIMS的²⁶Al–²⁶Mg测年分析条件时，仔细评估产率以及RSF和IMF的行为的必要性，这一结论也适用于其他可以利用SIMS进行分析的同位素系统。

数据可用性声明

本研究的数据可应合理要求向相应作者索取。

同行评审

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