理解嵌入式非易失性存储器的安全态势：一项全面调查

嵌入式非易失性存储器（eNVMs）在提升计算效率的同时面临数据保留带来的安全漏洞，需防范物理攻击（如侧信道攻击）和逻辑威胁（如信息泄露）。本文从架构视角分析eNVMs安全漏洞，综述物理不可克隆函数、真随机数生成等安全机制，并探讨侧信道攻击、故障注入、热攻击等威胁，最后通过文献计量分析2000年以来的研究趋势。

　　

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现代半导体行业需要能够满足高性能计算高速需求的内存解决方案。嵌入式非易失性存储器（eNVM）通过提供更快的数据访问速度、更高的计算吞吐量和效率来满足这些要求。此外，这些技术还具备许多吸引人的特性，包括有限的面积-能量-运行时间预算和数据保留能力。其中，eNVM的数据保留功能在半导体领域引起了特别关注。尽管这一特性使得eNVM即使在断电情况下也能保留数据，但它也带来了一些安全风险，引发了人们对eNVM技术相关安全问题的关注。本文从架构角度探讨了特定存储器中存在安全漏洞的原因，并详细研究了基于eNVM的安全原语，如物理不可克隆函数和真随机数生成器，以及逻辑混淆等技术。文章还分析了针对eNVM的各种安全威胁，包括物理攻击（如侧信道攻击、故障注入和探测）和逻辑威胁（如信息泄露、拒绝服务和热攻击）。最后，本文总结了自21世纪初以来eNVM领域的研究趋势，反映了该领域日益增长的研究活力。

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