通过新型化学机械抛光技术,在航空航天微轴承垫片表面形成原子级光滑度,该技术采用了混合氧化铈磨料

《Surfaces and Interfaces》:Atomic level surface induced by novel chemical mechanical polishing for shims of micro-bearing of aerospace using hybrid ceria abrasives

【字体: 时间:2026年03月16日 来源:Surfaces and Interfaces 6.3

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  新型绿色化学机械抛光液实现航空微轴承原子级表面,优化配比使Ra降至0.173 nm,损伤层厚度仅9 nm,TEM与化学分析证实机理,环境友好且高效。

  
郝国|张振宇|张群|黄思凌|周红秀|王文斌|邵家涛|马志远|赵树明
中国大连理工大学高性能精密制造国家重点实验室,大连116024

摘要

航空航天微轴承在高速旋转过程中会受到严重磨损、振动和噪音的影响,如果使用普通轴承的表面,还可能导致故障。因此,实现原子级表面对于航空航天微轴承来说是非常重要的。然而,在轴承钢制成的垫片上获得原子级表面是一个挑战。为了克服这一挑战,开发了一种新型的绿色化学机械抛光(CMP)技术,该抛光液由二氧化硅和氧化铈的混合磨料、过氧化氢、乙二胺四乙酸二钠(EDTA-2Na)、甘氨酸和碳酸钠组成。经过CMP处理后,表面粗糙度达到0.173纳米(Sa),材料去除率为210纳米/分钟。透射电子显微镜(TEM)检测结果显示受损层的厚度为9纳米。据我们所知,这些参数都是迄今为止最低的水平。通过分子动力学模拟发现,原子级划痕或切割是由于应力激活的位错积累引起的。当切割深度从1纳米增加到3纳米时,受损层的厚度从4.6纳米增加到12.1纳米,这与TEM的结果一致。电化学分析、X射线光电子能谱和傅里叶变换红外光谱表明,铁和铬被过氧化氢氧化形成了氧化物,随后这些氧化物被甘氨酸溶解,并与EDTA-2Na形成络合物。这种新型绿色CMP技术为轴承钢垫片表面达到原子级平整度开辟了新途径,具有在航空航天微轴承中的应用潜力。

引言

轴承作为各种设备的关键部件,广泛应用于航空、航天、海洋、能源、制造等领域。它们的寿命、精度和可靠性对设备的运行至关重要[[1], [2], [3]]。随着制造技术的快速发展,各种先进设备对所使用的轴承提出了更高的要求[4,5]。以航空航天微轴承为例,其工作环境面临着巨大的离心力、剧烈的温度波动、真空环境以及严重的振动[6,7]。这些恶劣条件对航空航天微轴承的启动扭矩控制提出了严格的要求。轴承垫片的表面粗糙度决定了轴承的摩擦和润滑性能,从而影响微轴承的启动扭矩[8]。过高的粗糙度会导致接触界面处的摩擦系数增加,加剧摩擦并进一步提高启动扭矩[9]。因此,为了满足航空航天微轴承对低启动扭矩的要求,减少启动过程中的能耗,并确保轴承的可靠性和寿命,轴承垫片必须具有超低的表面粗糙度[[10], [11], [12], [13], [14]]。
目前,轴承垫片的抛光方法主要包括电解抛光[15]、激光抛光[16]、手工抛光[17]和CMP[18]。然而,由于这些方法的固有局限性,在轴承垫片上实现原子级表面仍然是一个挑战。电解抛光由于电场分布不均匀和电解质浓度梯度会导致微孔形成[15];激光抛光虽然具有非接触式的优点,但仍会产生热缺陷(热影响区和微裂纹)和飞溅[16],[19],[20],[21];手工抛光虽然操作灵活,但表面质量不稳定,无法满足严格的轴承规格[17]。作为一种超精密表面处理技术,CMP已在全球范围内实现了金属、半导体和精密零件的原子级表面[22]。CMP抛光液在获得原子级表面方面起着关键作用,但不同抛光液在材料去除效率、均匀性以及抛光后的表面形态和精度方面存在显著差异[23],[24],[25]。此外,传统的轴承钢CMP抛光液通常含有有毒和腐蚀性成分。因此,需要开发一种新的绿色CMP抛光液,以实现微轴承垫片的原子级表面,满足低启动扭矩的要求[26]。
为了实现轴承钢材料的原子级表面抛光,研究人员对CMP抛光液进行了系列研究:刘等人[27]研究了草酸和H?O?的协同作用,在氧化过程中形成了Fe-草酸酯化合物,将表面粗糙度(Ra)降低到2.1纳米;潘等人[28]利用EDDS与1,2,4-三唑的络合作用将Ra降低到1.8纳米;赵等人[29]在弱碱性条件下使用过硫酸钾作为氧化剂与EDTA结合,将Ra降低到1.7纳米。然而,上述关于轴承钢材料的CMP抛光液研究尚未实现接近原子级的表面抛光效果。此外,一些化学试剂具有很强的腐蚀性,可能对设备、操作人员和环境造成伤害。现有的轴承钢CMP研究主要从表面粗糙度(Sa)和材料去除率的角度评估抛光性能,而对表面损伤演变的系统研究较少。缺乏综合考虑表面完整性、亚表面变形和物理化学机制的多维度分析,限制了对CMP在精密轴承部件中行为的全面理解。
在这项研究中,开发了一种新的绿色CMP抛光液,用于实现航空航天微轴承垫片的原子级表面抛光。该抛光液以去离子水为溶剂,二氧化硅溶胶和CeO?为磨料,过氧化氢为氧化剂,无水Na?CO?为pH调节剂,EDTA-2Na和甘氨酸为络合剂。通过单因素实验优化了抛光液配方,使用原子力显微镜(AFM)测得的表面粗糙度为0.173纳米,材料去除率为210纳米/分钟。分子动力学模拟阐明了亚表面损伤的形成机制,协调TEM观察了CMP前后亚表面层的厚度变化。电化学测试、XPS和FTIR光谱用于研究CMP机制,扫描电子显微镜(SEM)和能量色散光谱(EDS)验证了抛光浆料的化学稳定性和环保性。

材料

本研究中使用的航空航天微轴承垫片由洛阳轴承研究院有限公司制造,采用Cr4Mo4V轴承钢制成[30]。其主要元素组成见表1。垫片的尺寸如图1(a)所示,外径为3.334毫米,内径为1.153毫米。图1(b)-(c)展示了微轴承垫片的原始粗糙度。

抛光实验分析

图5和图6展示了在不同比例的绿色环保抛光液条件下样品的表面粗糙度和三维形态。实验比较表明,当pH值为9、H?O?的质量分数为1 wt.%、EDTA-2Na的质量分数为1.5 wt.%、甘氨酸的质量分数为0.25 wt.%、CeO?的质量分数为0.1 wt.%时,平均表面粗糙度达到最佳值0.381纳米。
效果分析

结论

本研究开发了一种用于抛光航空航天微轴承垫片的新型绿色CMP抛光液。该抛光液由过氧化氢、EDTA-2Na、甘氨酸、碳酸钠以及二氧化硅和氧化铈的混合磨料组成,通过单因素实验优化得到了优异的抛光效果。详细的研究结果如下:
  • (1)
    通过抛光实验比较,获得了最佳的抛光液配方:pH值为9,二氧化硅溶胶的用量为

作者贡献声明

郝国:方法论研究、数据分析、概念构建。张振宇:撰写-审稿与编辑、验证、监督、方法论研究、资金获取、概念构建。张群:软件开发、资源调配、数据分析。黄思凌:软件开发、数据分析。周红秀:数据可视化、软件开发、数据分析。王文斌:软件开发、资源调配、数据分析。邵家涛:软件开发、资源调配

利益冲突声明

作者声明没有已知的财务利益冲突或个人关系可能影响本文的研究结果。

致谢

作者感谢江苏省前沿技术研发项目(BF2025039)、钱科学技术综合成果项目(2025ZD110)、中央高校基本科研业务费(DUT25YG268)、上海市科学技术计划项目(25JC3200200)以及白云鄂博稀土资源研究与综合利用国家重点实验室开放基金(2025B2725-QZ-10)的财政支持。
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