利用数值器件仿真对NCringFET器件和逆变器电路进行单事件瞬态分析

《IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems》：Single-Event Transient Analysis on NCringFET Devices and Inverter Circuits Utilizing Numerical Device Simulations

【字体： 大 中 小 】 时间：2026年03月24日 来源：IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 2.9